直讀光譜儀是應(yīng)用原子發(fā)射光譜分析原理著力提升，快速定量分析塊狀深刻內涵、棒狀等金屬樣品的化學(xué)成分的光電光譜儀。

1.分析原理

樣品在激發(fā)光源下被激發(fā)融合，其原子和離子躍遷發(fā)射出光，進(jìn)入光學(xué)系統(tǒng)被色散成元素的光譜線相關性。對(duì)選定的內(nèi)標(biāo)線和分析線的強(qiáng)度進(jìn)行測(cè)量完成的事情，根據(jù)元素譜線強(qiáng)度與被測(cè)元素的濃度的相互關(guān)系，采用持久曲線法和控制試樣法得到試樣中被測(cè)元素的含量穩定。

2.術(shù)語(yǔ)

2.1光譜：光譜是指電磁輻射按照波長(zhǎng)（或頻率）順序排列形成的圖譜改造層面。

2.2標(biāo)準(zhǔn)試樣法：此方法是在每次分析樣品前激發(fā)一系列標(biāo)準(zhǔn)樣品（要求標(biāo)樣與試樣具有相同的冶煉過(guò)程和晶體結(jié)構(gòu)）制作校準(zhǔn)曲線。根據(jù)元素譜線強(qiáng)度與被測(cè)元素的濃度的相互關(guān)系擬合并存貯工作曲線優勢與挑戰，然后激發(fā)待測(cè)試樣經驗分享，從工作曲線上計(jì)算出待測(cè)元素濃度。

2.3持久曲線法：此方法是預(yù)先用標(biāo)準(zhǔn)試樣法制作持久校準(zhǔn)曲線趨勢，每次分析時(shí)僅激發(fā)待測(cè)試樣有力扭轉，從持久曲線上計(jì)算出待測(cè)元素濃度。

   由于環(huán)境變化和儀器內(nèi)部器件的各種變化均會(huì)使校準(zhǔn)曲線發(fā)生漂移一站式服務，為此在實(shí)際分析中廣度和深度，每天（每班）必須用標(biāo)準(zhǔn)化樣品對(duì)校準(zhǔn)曲線的漂移進(jìn)行修正，即校準(zhǔn)曲線標(biāo)準(zhǔn)化引領作用。

2.4控制試樣法：由于分析試樣和制作工作曲線的光譜標(biāo)樣在冶金過(guò)程和物理狀態(tài)存在差異加強宣傳，使分析結(jié)果與實(shí)際含量有偏差。在日常分析中建設，將控樣與試樣同時(shí)分析在此基礎上，通過(guò)控樣分析值修正試樣分析值，得到試樣的分析結(jié)果前來體驗。

2.5標(biāo)樣：標(biāo)樣要求質(zhì)地均勻自主研發，穩(wěn)定，有準(zhǔn)確化學(xué)成分建議。光譜標(biāo)樣是為日常分析繪制校準(zhǔn)曲線所需要的有證參比物質(zhì)品率，所選用的標(biāo)準(zhǔn)樣品中各分析元素含量須有適當(dāng)?shù)奶荻取?/span>

2.6再校準(zhǔn)樣品（標(biāo)準(zhǔn)化樣）：由于儀器狀態(tài)的變化，導(dǎo)致測(cè)定結(jié)果偏離，為直接利用原始校準(zhǔn)曲線積極影響，求出準(zhǔn)確結(jié)果自動化方案，使用該樣品對(duì)儀器進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化，使系統(tǒng)恢復(fù)到原始工作曲線狀態(tài)越來越重要。標(biāo)準(zhǔn)化樣應(yīng)與標(biāo)準(zhǔn)材質(zhì)接近線上線下，具有良好的均勻性。

單點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)化的元素含量選在校正曲線的上限附近醒悟；兩點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)化的元素含量分別選在校正曲線的上限和下限附近數據顯示。

2.7 控樣：控樣是指從日常生產(chǎn)分析中取得，與試樣材質(zhì)相同也逐步提升、冶煉記得牢、軋制過(guò)程基本相同，有準(zhǔn)確的化學(xué)成分的內(nèi)部標(biāo)樣重要的作用。使用控樣可修正試樣分析值更多可能性。

3．取樣和樣品制備

3.1煉鋼熔煉樣應(yīng)在鋼水均勻的部位取樣澆鑄，鑄成Φ上40mm足夠的實力，Φ下30mm緊迫性，高60～70mm圓柱，澆鑄前應(yīng)在樣勺內(nèi)加鋁脫氧更適合，鋁加入量小于0.30%為宜高效。鑄成的試樣應(yīng)無(wú)氣孔、夾雜和裂紋要素配置改革，普碳鋼體系、低合金鋼可以淬水冷卻，中核心技術體系、高碳及中深刻認識、高合金鋼只能緩冷。若要分析樣品中鋁含量應用提升，澆鑄時(shí)不能加鋁主動性。

3.2鋼材取樣應(yīng)在具有代表性的部位選取。圓棒狀樣品直徑應(yīng)在5.0mm以上發展的關鍵，長(zhǎng)度120～140mm道路。片狀樣品直徑大于16mm，長(zhǎng)度方向60mm以上真諦所在，厚度大于3mm指導。

3.3制備澆鑄樣應(yīng)在試樣下端三分之一處截取，得到直徑30～35mm充分，高度小于30mm的試樣進一步完善，試樣的激發(fā)面用粒度24～60目的砂輪或砂紙磨平、拋光。要求激發(fā)面平整調整推進、無(wú)氣孔狀況、夾雜和裂紋，拋紋清晰無(wú)交叉機製，不得觸摸全過程，以便封閉火花室保證激發(fā)正常。試樣的背面要除去氧化皮和污物探討，保持良好的導(dǎo)電性不負眾望。未經(jīng)切割的試樣，其表面必須去掉1mm的厚度調解製度。

3.4棒材精準調控、線材樣品要平直、分析端面平整或按特殊要求加工創新內容，使用小樣夾具時(shí)試樣要夾正中心機遇與挑戰，樣品分析面要和夾具底面在同一平面上，不得伸出或不到位善於監督。

3.5片狀樣品分析面必須密封激發(fā)孔（直徑大于16mm），厚度大于2mm就能壓製。其他類(lèi)型的樣品參照上述要求加工更合理。

3.6標(biāo)樣、標(biāo)準(zhǔn)化樣更優美、控樣實際需求、試樣要在同一條件下磨拋，不得過(guò)熱優勢。

4.儀器組成

4.1樣品激發(fā)臺(tái)  開(kāi)架式激發(fā)臺(tái)善謀新篇，附有小樣夾具，有光路氬氣沖洗系統(tǒng)便利性。

4.2光源  高能予火花光源方法。

4.3光學(xué)系統(tǒng)  有一個(gè)密封充氮紫外光學(xué)室和兩個(gè)空氣光學(xué)室。充氮室附有氮?dú)庾詣?dòng)純化系統(tǒng)提供有力支撐，每個(gè)光學(xué)室內(nèi)有一個(gè)全息凹面光柵切實把製度。

4.4 測(cè)量控制系統(tǒng)  包括光電轉(zhuǎn)換檢測(cè)器、積分器和A/D轉(zhuǎn)換等電路裝置自行開發。儀器的操作程序由計(jì)算機(jī)輸出的指令經(jīng)控制電路啟動(dòng)執(zhí)行元件進行部署。

4.5 計(jì)算機(jī)系統(tǒng)  完成整個(gè)儀器的控制，操作和計(jì)算任務(wù)應用情況。M7光譜儀分析軟件對(duì)應(yīng)MS-DOS 6.2和WINDOWS兩種操作系統(tǒng)有兩個(gè)不同版本的應(yīng)用軟件保護好， M8光譜儀分析軟件只有WINDOWS操作系統(tǒng)下的應(yīng)用軟件。

4.6 氬氣沖洗系統(tǒng)  有壓力調(diào)節(jié)器和流量計(jì)以及氣控閥等，沖洗系統(tǒng)為分析間隙提供氬氣保護(hù)氣氛特點。

5 主要技術(shù)參數(shù)

5.1 光學(xué)系統(tǒng)  三個(gè)光學(xué)室深刻變革，全息凹面光柵，焦距750mm慢體驗。

5.2 光源  M7光源型號(hào)為2050型著力增加；M8光源型號(hào)為3000型。

5.3 氬氣控制參數(shù)  光譜分析儀的氬氣純度≥99.995%科技實力。必要時(shí)可配置氬氣凈化器提高氬氣純度處理。入口壓力約0.5MPa，分析流量為300升/小時(shí)在此基礎上，靜態(tài)流量為30升/小時(shí)助力各行，退出分析程序時(shí)流量為10升/小時(shí)。

5.4 分析參數(shù)  M7光譜儀的分析間隙 3mm自主研發，輔助間隙 4 mm確定性； M8光譜儀的分析間隙 3.4mm，無(wú)輔助間隙 損耗。

5.5 分析元素和分析通道   M7光譜儀有鐵講故事、銅和鋁三個(gè)基體，45個(gè)分析通道總之，35個(gè)分析元素面向； M8光譜儀有一個(gè)鐵基體，53個(gè)分析通道（含7個(gè)軟件通道）研學體驗，28個(gè)分析元素建設項目。

5.6環(huán)境條件  允許工作溫度5～40℃，*佳工作溫度10～30℃落實落細，在同一個(gè)再校準(zhǔn)周期內(nèi)溫度變化≤5℃相結合。相對(duì)濕度20%～80%。接地電阻≤4歐姆製高點項目。

5.7 電源  230VAC±10%～15%   50Hz為產業發展，*大功率2.5KVA。為避免電源對(duì)儀器的干擾需安裝大于16A的電磁開(kāi)關(guān)認為，3KVA以上的電子交流穩(wěn)壓器（電源凈化器）服務好。

6.開(kāi)機(jī)、關(guān)機(jī)順序

6.1合上電源閘反應能力，啟動(dòng)穩(wěn)壓器共謀發展，待電壓穩(wěn)定到工作電壓。

6.2將儀器后面板的紅色開(kāi)關(guān)由“OFF”位置扳到“ON”的位置結構重塑。（每次開(kāi)機(jī)后儀器應(yīng)穩(wěn)定2小時(shí)再開(kāi)始試樣的測(cè)量工作）

6.3將氬氣**壓力（氣瓶）調(diào)到約0.5MPa聽得懂，二級(jí)壓力（氬氣凈化器）應(yīng)大于0.5MPa應用優勢。

6.4按下儀器后面板的“STANDBY”待機(jī)開(kāi)關(guān)。然后按下儀器后面板的“SOURCE”光源開(kāi)關(guān)全方位。

6.5 依次打開(kāi)顯示器電源高效節能、打印機(jī)電源和計(jì)算機(jī)電源，進(jìn)入WINDOWS操作系統(tǒng)大局。

6.6雙擊“Spark analyzer”圖標(biāo)新創新即將到來，啟動(dòng)光譜儀分析軟件。

6.7關(guān)機(jī)順序和開(kāi)機(jī)順序相反有序推進。

7校正工作曲線（標(biāo)準(zhǔn)化）

7.1在工作曲線發(fā)生漂移時(shí)和換氬氣后必須進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化工作設施。

7.2啟動(dòng)“Spark analyzer”光譜儀分析軟件后，按F10鍵調(diào)用所需分析程序,在分析程序表中堅定不移，用鼠標(biāo)單擊要調(diào)用的分析程序名組合運用，再單擊OK按鈕，進(jìn)入測(cè)量窗口迎難而上。

7.3按CTRL+F鍵用氬氣預(yù)沖洗火花臺(tái)脫穎而出。然后按F2鍵激發(fā)幾次廢樣，待儀器穩(wěn)定后可進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化操作生產創效。

7.4在測(cè)量窗口結構，按F7鍵開(kāi)始標(biāo)準(zhǔn)化，在“Standardize program”標(biāo)準(zhǔn)化對(duì)話框點(diǎn)擊Yes按鈕確認(rèn)后優化上下，屏幕右上角出現(xiàn)“Sample list”標(biāo)準(zhǔn)化試樣表,其中以黃色背景顯示的是當(dāng)前要激發(fā)的標(biāo)準(zhǔn)化樣品名哪些領域。點(diǎn)擊標(biāo)準(zhǔn)化樣品名對(duì)話框Yes按鈕確認(rèn)，將正確的標(biāo)準(zhǔn)化樣品在火花臺(tái)放好后不斷創新，按F2鍵，開(kāi)始激發(fā)準(zhǔn)備好的相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)化樣至少4次提供了遵循，如有不好的激發(fā)結(jié)果可用Delete鍵刪除之參與水平。按F9鍵自動(dòng)平均存儲(chǔ)并進(jìn)入下一個(gè)樣品，以此類(lèi)推服務效率，*后直到屏幕中間出現(xiàn)一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)表后明確相關要求，按OK按鈕，此時(shí)打印機(jī)開(kāi)始打印統籌發展。

※注意：必須注意要按照屏幕提示激發(fā)樣品深化涉外，一定不能做錯(cuò)標(biāo)準(zhǔn)化樣品，否則生產製造，后果十分嚴(yán)重開展試點。

8.類(lèi)型標(biāo)準(zhǔn)化

8.1在下列情況下必須進(jìn)行類(lèi)型標(biāo)準(zhǔn)化樣（控樣）校正：分析中間發(fā)現(xiàn)結(jié)果偏差較大時(shí)或分析不同品種鋼號(hào)樣品時(shí)。

8.2在測(cè)量窗口共同，按F8鍵進(jìn)行類(lèi)型標(biāo)準(zhǔn)化操作推進一步。在彈出的“Measure Type Standardization Sample”控樣測(cè)量窗口的“Available Sample”可選樣品欄中列出可供選擇的類(lèi)型標(biāo)準(zhǔn)化樣品名經過，單擊樣品名選擇需要的類(lèi)型標(biāo)準(zhǔn)化樣品名，其背景變蘭且自動(dòng)傳輸?shù)?span lang="EN-US">“Select Sample”選擇樣品欄的輸入?yún)^(qū)力度，并按OK按鈕確認(rèn)明確了方向。

8.3選擇類(lèi)型標(biāo)準(zhǔn)化試樣后，屏幕出現(xiàn)“Type Standardize(measure sample)”類(lèi)型標(biāo)準(zhǔn)化（測(cè)量樣品）對(duì)話框勇探新路，按Yes按鈕進(jìn)入測(cè)量窗口單產提升。

8.4在測(cè)量窗口先激發(fā)幾次廢樣,待儀器穩(wěn)定后可進(jìn)行類(lèi)型標(biāo)準(zhǔn)化操作。按F2鍵激發(fā)準(zhǔn)備好的相應(yīng)類(lèi)型標(biāo)準(zhǔn)化樣2～3點(diǎn)試驗，如有不好的激發(fā)結(jié)果可用Delete鍵刪除之勞動精神。若精度滿足要求，按F9鍵自動(dòng)平均存儲(chǔ)后屏幕中間出現(xiàn)一個(gè)控樣數(shù)據(jù)表后發揮作用，按OK按鈕結(jié)束類(lèi)型標(biāo)準(zhǔn)化工作良好；在做完控樣后，屏幕左上方**行必須出現(xiàn)“Type connected concentration→試樣名”類(lèi)型含量銘記囑托，此時(shí)再將該控樣激發(fā)一次引領，分析值與化學(xué)值相符才說(shuō)明類(lèi)型標(biāo)準(zhǔn)化成功。

8.5在調(diào)換分析程序后（包括重新調(diào)用了分析程序）或在同一分析程序中要分析不同牌號(hào)樣品時(shí)示範，必須按 Shift+F8鍵重新調(diào)用相應(yīng)的控樣系數(shù)應用前景。

9.試樣分析

9.1啟動(dòng)“spark analyzer”光譜儀分析軟件后，按F10鍵調(diào)用所需分析程序,在分析程序表中運行好，用鼠標(biāo)單擊要調(diào)用的分析程序名首次，再單擊OK按鈕，進(jìn)入測(cè)量窗口部署安排。

9.2完成標(biāo)準(zhǔn)化操作和類(lèi)型標(biāo)準(zhǔn)化操作后搖籃，可進(jìn)行試樣分析。

9.3在測(cè)量窗口推廣開來，按F2鍵激發(fā)樣品推動，試樣激發(fā)點(diǎn)約在分析面半徑的1／2處，每個(gè)樣品至少激發(fā)3次資源配置，并按Shift+F9鍵修改樣品名稱信息，*后按F9鍵自動(dòng)平均存儲(chǔ)。

9.4分析線材樣品時(shí)大力發展，按F2鍵每激發(fā)樣品一次豐富內涵，在測(cè)量窗口產(chǎn)生5組測(cè)量數(shù)據(jù)，刪除前兩組數(shù)據(jù)產能提升，保留后三組數(shù)據(jù)適應性，并按Shift+F9鍵修改樣品名稱，*后按F9鍵自動(dòng)平均存儲(chǔ)總之。

10 維護(hù)

10.1  日維護(hù)

10.1.1 每激發(fā)一個(gè)試樣前須用軟紙擦凈火花臺(tái)面向，再用電極刷擦凈電極支撐作用。

10.1.2 每班要清理一次火花室，清理火花臺(tái)前建設項目，先關(guān)閉光源最為突出。然后擰下火花臺(tái)前的電極定位螺桿，卸下火花臺(tái)板相結合，小心取出火花室內(nèi)圓石英墊片和玻璃套管高效化，再用吸塵器清理火花室的黑色沉積物。

10.1.4 清理火花室內(nèi)部后不折不扣，安裝火花臺(tái)板時(shí)要用中心距定好中心支撐能力，再擰緊固定螺絲，然后用電極定距螺桿調(diào)整好電極距高效利用。再將玻璃套管套在電極上特征更加明顯。

10.1.5 每班要用干凈抹布擦凈儀器外殼，用吸塵器清理凈火花臺(tái)面和廢氬排出口的塵物講理論，打掃機(jī)房?jī)?nèi)衛(wèi)生的可能性。

10.2  周維護(hù)

10.2.1 每周清理一至兩次廢氬過(guò)濾筒。卸下和安裝前護(hù)蓋時(shí)要特別小心服務為一體，**不能碰觸光導(dǎo)纖維問題。

10.2.2 每周用吸塵器清理風(fēng)扇前泡沫過(guò)濾片上的灰塵。

10.3 月維護(hù)

月以上維護(hù)由技術(shù)人員進(jìn)行全會精神。

11 **注意事項(xiàng)

11.1 非崗位人員不得隨便進(jìn)入機(jī)房系統穩定性，機(jī)房?jī)?nèi)禁止吸煙、吃食物集中展示。

11.2卸下火花臺(tái)板時(shí)要輕拿輕放實力增強，防止內(nèi)表面劃傷。取出火花室內(nèi)圓石英墊片和玻璃套管時(shí)務(wù)必謹(jǐn)慎小心探索創新，防止操作不當(dāng)致其破碎重要工具。

11.3壓樣品夾子要垂直，不得在未夾好樣品時(shí)按激發(fā)鍵配套設備，不得在激發(fā)時(shí)觸摸或抬起樣品夾。如果遇到激發(fā)時(shí)聲音很大相對開放，應(yīng)該按F3鍵停止推進高水平，不允許直接抬起樣品夾，否則易造成電路板燒毀拓展應用。

11.4激發(fā)樣品后在火花臺(tái)內(nèi)產(chǎn)生黑色沉積物可導(dǎo)致電極與火花臺(tái)之間短路生產創效，所以火花臺(tái)應(yīng)定期清理。

11.5不準(zhǔn)亂按鍵盤(pán)管理，操作人員不得進(jìn)入操作規(guī)程規(guī)定以外的任何程序優化上下，不得按規(guī)程規(guī)定以外的任何功能鍵能力建設。

11.6如果遇到突然斷電時(shí)，應(yīng)先關(guān)總電源生產體系，再將其它電源關(guān)閉服務，等到來(lái)電后，按本規(guī)程條款6.1至6.6進(jìn)行開(kāi)機(jī)操作技術節能。

11.7儀器發(fā)生故障時(shí)應(yīng)及時(shí)報(bào)告技術(shù)人員處理指導。儀器發(fā)生異常現(xiàn)象時(shí)國際要求，馬上關(guān)閉電源流動性，保護(hù)現(xiàn)場(chǎng)并及時(shí)上報(bào)。

12允許差

按GB 4336的規(guī)定執(zhí)行競爭激烈。

附錄：M7光譜儀分析軟件在MS-DOS 6.2操作系統(tǒng)下的分析操作

1. 標(biāo)準(zhǔn)化

1.1 在工作曲線發(fā)生漂移時(shí)和換氬氣后必須進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化工作持續創新。

1.2啟動(dòng)光譜儀分析軟件，在M7主菜單中選擇“Spectrometer program”光譜儀程序按回車(chē)鍵空白區，進(jìn)入測(cè)量窗口協調機製。在測(cè)量窗口下按Alt+L鍵，調(diào)用所需分析程序充分發揮。

1.3按CTRL+F鍵用氬氣預(yù)沖洗火花臺(tái)高質量。然后按F9鍵激發(fā)幾次廢樣，待儀器穩(wěn)定后可進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化操作選擇適用。

1.4按F7鍵進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化管理。屏幕上方顯示要激發(fā)的標(biāo)準(zhǔn)化樣號(hào)時(shí)，激發(fā)準(zhǔn)備好的相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)化樣業務指導。至少要激發(fā)四點(diǎn)改進措施，如有不好的激發(fā)結(jié)果刪除之。按F6鍵出現(xiàn)平均值后按END鍵存貯之長足發展。

1.4 當(dāng)屏幕上方顯示下一個(gè)要激發(fā)的標(biāo)準(zhǔn)化樣號(hào)時(shí)今年，進(jìn)行上一步驟同樣的工作，直至激發(fā)完所有需要激發(fā)的標(biāo)準(zhǔn)化樣結構不合理。

1.5 當(dāng)顯示標(biāo)準(zhǔn)化系數(shù)時(shí)按END鍵存貯之動手能力。

1.6 標(biāo)準(zhǔn)化后在含量方式下激發(fā)一個(gè)或多個(gè)控樣。如結(jié)果偏差大意見征詢，重新進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化工作提升。

2 控樣校正

2.1 在下列情況下必須進(jìn)行控樣校正：分析中間發(fā)現(xiàn)結(jié)果偏差大時(shí)或分析不同品種鋼號(hào)樣品時(shí)。

2.2 調(diào)入所需分析程序的必然要求，在分析元素屏幕下按ESC鍵研究成果，**亮蘭區(qū)標(biāo)題頭，按F8鍵出現(xiàn)控樣名稱列表完善好，移動(dòng)光標(biāo)選擇所需控樣名稱按回車(chē)鍵體驗區。

2.3 在標(biāo)題“Sample-No”下出現(xiàn)控樣名稱后增多，激發(fā)準(zhǔn)備好的相應(yīng)控樣至少4次，如有不好的激發(fā)結(jié)果刪除之有望。然后按F6鍵平均進一步推進。在按屏幕提示按回車(chē)鍵，當(dāng)屏幕出現(xiàn)控樣校正后的系數(shù)時(shí)標準，按END鍵存貯之示範推廣。

2.4 在調(diào)換分析程序（包括重新調(diào)用了分析程序）后，或在同一分析程序中要分析不同牌號(hào)樣品時(shí)即將展開，必須重新調(diào)用相應(yīng)的控樣系數(shù)大幅增加。

2.5 在分析元素屏幕下按ESC鍵，消除亮蘭區(qū)標(biāo)題頭傳承，按Alt+F8鍵出現(xiàn)控樣名稱列表等特點，移動(dòng)光標(biāo)選擇所需控樣名稱按回車(chē)鍵。

2.6 當(dāng)屏幕顯示控樣系數(shù)后按END鍵存貯之多種。

2.7 按翻頁(yè)鍵將進一步，選擇“ Type cons. ”控樣含量方式，即可分析試樣發展成就。

3 試樣分析

3.1啟動(dòng)光譜儀分析軟件后成就，在M7主菜單中選擇“Spectrometer program”光譜儀程序按回車(chē)鍵，進(jìn)入測(cè)量窗口開展面對面。在測(cè)量窗口下按Alt+L鍵系統，調(diào)用所需分析程序。

3.2在顯示分析程序名稱列表后移動(dòng)光標(biāo)進一步提升，選擇所需的分析程序名稱按回車(chē)鍵空間廣闊。

3.3完成標(biāo)準(zhǔn)化操作和類(lèi)型標(biāo)準(zhǔn)化操作后，可進(jìn)行試樣分析改革創新。

3.4 按ESC鍵出現(xiàn)亮蘭區(qū)標(biāo)題頭知識和技能，在“Sample-No”項(xiàng)輸入試樣號(hào)，空兩格輸入班代碼新模式，回車(chē)實現；在“Sample-ID”樣品碼輸入品種代碼；在“Qperator” 操作者項(xiàng)下輸入操作者代碼組織了。

3.5 夾好試樣的可能性，按F9鍵激發(fā)。試樣激發(fā)部位約在分析面半徑的1/2處各領域。每個(gè)試樣至少激發(fā)3次，如有不好的結(jié)果移動(dòng)光標(biāo)按Delete鍵刪除后再激發(fā)一兩次保持競爭優勢，然后按F6鍵顯示和打印平均結(jié)果進行培訓。